藤野代理日本大冢 OTSUKA 帶刻度顯微鏡 183-100X 日本軍工技術(shù)
2019-08-31 10:56:42
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.日本大冢(OTSUKA) 帶刻度顯微鏡 183-100X
一、規(guī)格:
倍率:20倍,40倍,60倍,100倍
實視野:7.2毫米,4.3毫米,2.2毫米,1.8毫米
測量范圍:6.0毫米,3.4毫米,1.6毫米,1.2毫米
最小刻度:5/100毫米,2/100毫米,2/100毫米1/100毫米
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